Certus Optic — совмещенные сканирующий зондовый (СЗМ) и оптический микроскопы

Certus Optic — совмещенные сканирующий зондовый (СЗМ) и оптический микроскопы

Certus Optic – сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ), совмещенный с оптическим микроскопом.

В комплексе Certus Optic интегрированы оптический и сканирующий зондовый микроскопы, что позволяет эффективно использовать преимущества этих инструментов и компенсировать их недостатки.

Интеграция с исследовательским оптическим микроскопом снимает ограничения сканирующего зондового микроскопа (атомно-силового микроскопа), связанные с трудностью поиска объекта исследования на поверхности образца;
Сканирующий зондовый микроскоп позволяет исследовать поверхность объектов за пределами разрешающей способности оптического микроскопа и получать истинно трехмерный рельеф поверхности образцов;
Объекты исследования могут находиться в нативном состоянии при исследованиях ниже дифракционного предела.

На основе двух основных типов оптических микроскопов созданы две модели комплекса Cerus Optic. Certus Optic I - модель на основе инвертированного микроскопа (inverted), и комплекс Certus Optic U - модель на основе прямого микроскопа (upright).

Certus Optic I	Certus Optic U

В состав Certus Optic входят:
сканирующая головка Certus	сканирующая головка Certus
устройство позиционирования и сканирования Ratis	устройство позиционирования и сканирования Ratis
инвертированный оптический микроскоп	прямой оптический микроскоп
устройство позиционирования образца	устройство позиционирования образца
-	автоматизированная подвижка для объективов
однокоординатная пьезоподвижка для объективов*	однокоординатная пьезоподвижка для объективов Vectus
единый СЗМ контроллер EG-3000	единый СЗМ контроллер EG-3000
программное обеспечение NSpec	программное обеспечение NSpec
*Опция.

Certus Optic I/U - сканирующий зондовый микроскоп + оптический микроскоп

A - Оптический микроскоп	B - СЗМ Certus
C - Сканирующее основание и подвижка для образца	D - Однокоординатная подвижка для объектива

Режимы работы сканирующей головки:

сканирующий атомно-силовой микроскоп (АСМ) - в базовой комлектации;
сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) - опционально;
сканирование датчиком Холла - опционально;
метод Кельвина - опционально;
другие методики сканирующей зондовой микроскопии - в соответсвии с задачами исследований.

Преимущества Certus Optic:

cканирующее основание Ratis (XY сканер в базовой комплектации или XYZ сканер в специализированных вариантах) позволяет позиционировать объект исследований с точностью до нескольких долей нанометра;
cканирующая головка Certus позволяет установить зонд сканирующего зондового микроскопа точно над выбранным участком;
cканирование возможно проводить как сканирующим основанием, так и сканирующей головкой. В общем случае сканирование по XY проводится основанием, а по Z сканирующей головкой;
cканирующая головка и основание – плоскопараллельные сканеры, лишенные традиционных искажений изображения при использовании сканера на пьезотрубках;
интеграция с оптическими микроскопами позволяет проводить исследования как прозрачных, так и не прозрачных образцов в зависимости от типа установленного микроскопа. В общем случае, инвертированный микроскоп предназначен для исследования прозрачных образцов, а прямой микроскоп для работы с непрозрачными образцами.
оптический микроскоп (прямой или инвертированный) позволяет использовать необходимые оптические методики исследования для выделения интересных с точки зрения исследователя объектов и наведения на них иглы СЗМ. В качестве оптического микроскопа может выступать продукция Olympus, Nikon и других производителей. Так же возможна интеграция СЗМ с уже имеющимися у исследователя микроскопами;
подставка снабжена независимыми системами позиционирования образца и головки, что позволяет проводить "грубое" позиционирование образца и/или зонда для выделения необходимой области;
модульная конфигурация и открытый дизайн, позволяющие интегрировать Certus Optic с другим оптическим и спектральным оборудованием.

Certus Optic – незаменимый инструмент для исследования физико-химических свойств поверхности в таких областях, как:

биология;
химия;
физика.

В частности исследование свойств:

покрытий;
полимеров (в том числе жидких кристаллов и композитов);
полупроводников;
биологических объектов (особенно в совокупности с флуоресцентной микроскопией;
MEMS и других электронных компонентов.

Сканирование поверхности полимера.

Оптическое изображение.

Объектив 40х

Основные идеи, заложенные в Certus Optic:

Вид кантилевера в различные оптические микроскопы. Левое изображение - тень от кантилевера в инвертированный микроскоп, правое изображение - кантилевер в прямой микроскоп.

Сравнение разрешения атомно-силового микроскопа и оптического микроскопа.

Сравнение разрешения атомносилового микроскопа (20х20 μм, 300х300 точек) и оптического микроскопа (объектив х100). Клетки Neuro-2a на поверхности пленки углеродных нанотрубок, полученных CVD методом на кремниевой подложке. Изображение предоставлено ЦКП "Нанотехнологии в Электронике" МИЭТ. www.nanotube.ru.

Certus Optic — совмещенные сканирующий зондовый (СЗМ) и оптический микроскопы